- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/38 - Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
Détention brevets de la classe G01Q 60/38
Brevets de cette classe: 281
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Bruker Nano, Inc. | 334 |
25 |
Centre National de La Recherche Scientifique | 9632 |
10 |
Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2362 |
10 |
The Regents of the University of California | 18943 |
7 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
5 |
President and Fellows of Harvard College | 5792 |
5 |
Veeco Instruments Inc. | 332 |
5 |
Vmicro | 9 |
5 |
Shimadzu Corporation | 5791 |
4 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
4 |
Park Systems Corp. | 27 |
4 |
Shenyang Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences | 77 |
4 |
UT-Battelle, LLC | 1333 |
4 |
AMG Technology Ltd. | 7 |
4 |
International Business Machines Corporation | 60644 |
3 |
The Board of Trustees of the University of Illinois | 2623 |
3 |
Angstrom Science, Inc. | 4 |
3 |
DCG Systems, Inc. | 68 |
3 |
Kyoto University | 2732 |
3 |
Hitachi, Ltd. | 16452 |
2 |
Autres propriétaires | 168 |